當前位置:網(wǎng)站首頁(yè) > 產(chǎn)品展示 > XEMIS系列磁懸浮微量天平 >
相關(guān)文章/ RELATED ARTICLES
產(chǎn)品展示
  • XEM吸附分析儀器
    XEMIS是一款高精度的吸附微量天平,用于環(huán)境下的精密測量。它可作為微量天平單獨使用,也可作為完整的吸附分析儀器。XEMIS有著(zhù)出色的靈活性以及的稱(chēng)量精度和穩定性。$n$nXEMIS微量天平采用了Hiden Isochema*的外部感知技術(shù),可在高溫、高壓條件下進(jìn)行重量吸附分析,也可與其他商業(yè)化的吸附微量天平儀器聯(lián)用。
    時(shí)間:2024-03-22型號:XEM瀏覽量:1906
    共 1 條記錄,當前 1 / 1 頁(yè)  首頁(yè)  上一頁(yè)  下一頁(yè)  末頁(yè)  跳轉到第頁(yè) 
Contact Us
  • 聯(lián)系QQ:52436437
  • 聯(lián)系郵箱:[email protected]
  • 聯(lián)系電話(huà):010 5272 2415
  • 聯(lián)系地址:北京市海淀區四季青路8號酈城工作區235

掃一掃  微信咨詢(xún)

© 2024 英格海德分析技術(shù)有限公司 版權所有  備案號:京ICP備05008133號-4  技術(shù)支持:化工儀器網(wǎng)    管理登陸    sitemap.xml

服務(wù)熱線(xiàn)
13501238067

微信掃一掃